背景

    科學技術的飛速發展，特別是信息技術、精密工程的發展，催生了眾多的新工藝
、新材料
、新產品，給人們的生產生活帶來了日新月異的變化
，然而所有這些新工藝、新材料、xinchanpindoulibukaiceshiceliangjishuhejingmiyiqi
，ceshiceliangjishushizhexiechanpinzhiliangdezhongyaobaozheng，erjiliangshiweiceshiceliangtigongbiaozhun，jingmiyiqishiqibibukeshaodegongju。suizhebeiceshixitong、產品的發展水平日趨提高――速度越來越快、體積越來越小、應用覆蓋範圍越來越廣，人們對測試測量技術及精密儀器的要求也越來越高


，促使測試測量技術和測量儀器不斷出現新理論
、新技術和新方法。為了進一步促進現代測試測量技術和精密儀器的發展，加快科研成果的推廣、移植和轉化的步伐

，給業內人士提供一個麵對麵交流與探討測試測量技術、計量技術及精密儀器的機會，中國儀器儀表學會
、《儀器儀表學報》、《光學精密工程》
、《計量學報》
、《國外電子測量技術》與《電子測量技術》聯合擬定於2006年12月在北京舉辦“首屆中國電子測量、計量與精密儀器學術交流大會”。

    此次大會旨在搭建一個麵向產、學、研、用(yong)各(ge)個(ge)層(ceng)次(ci)的(de)交(jiao)流(liu)平(ping)台(tai)，詮(quan)釋(shi)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)行(xing)業(ye)及(ji)精(jing)密(mi)儀(yi)器(qi)的(de)應(ying)用(yong)狀(zhuang)況(kuang)和(he)發(fa)展(zhan)趨(qu)勢(shi)

，全(quan)麵(mian)推(tui)進(jin)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)先(xian)進(jin)技(ji)術(shu)的(de)應(ying)用(yong)進(jin)程(cheng)，促(cu)進(jin)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)行(xing)業(ye)的(de)變(bian)革(ge)和(he)發(fa)展(zhan)。大(da)會(hui)活(huo)動(dong)將(jiang)由(you)特(te)邀(yao)報(bao)告(gao)、分會場報告、廠商產品展示等組成。

主辦單位 中國儀器儀表學會、《儀器儀表學報》
、《光學精密工程》、《計量學報》

、
         《國外電子測量技術》、《電子測量技術》

會議主題 “技術驅動應用”

論文征集

本次會議征文的內容要求突出先進性、可推廣性和可應用性，征文範圍包括（但不限於此
，凡與測試測量
、精密工程相關的，具有一定學術價值的文章均可參加）：

本次大會將麵向全國征集學術論文，經專家組評審後
，優秀論文將在工程索引（Ei）核心刊源、中文核心期刊的《光學精密工程》上刊登。

提交論文須知
1.務必提交未公開發表的論文，同時不得一稿多投
，不得抄襲，文責自負。
2.論文應有較高的學術水平和實際參考價值。
3.受資助的論文請注明項目名稱和編號。
4.論文字數在5000字左右，論文中插圖線條要清晰、準確，如有照片要另附原版。附300字以上的中英文摘要及3～5個關鍵詞。文章采用WORD格式，E―mail發送（投稿者請自留底稿）。
5.在參考文獻後附100字以內的作者簡介及詳細的聯係方式。

重要日期

聯係方法

如有查詢請聯係首屆中國電子測量與精密儀器學術交流大會秘書處 王明偉
地址：北京市東城區北河沿大街79號二樓
郵編：100009
電話: 64044400-103
傳真：64067828
投稿E-mail：
更多信息請訪問網站：www.cfemt.com

歡迎從事電子測試測量、計量和光學精密工程的教授
、專家

、學者
，以及從事有關研究的在讀碩士、博士研究生踴躍投稿。