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今天小菲就給大家解說下，在阿林頓的得克薩斯大學，以微型熱物理學實驗室主任Ankur Jain博士為首的團隊研究與微尺度熱傳導有關的各種話題。該實驗室采用各種現代設備和儀器，其中就包括FLIR紅外熱像儀。
三維集成電路中的散熱
Ankur Jain博士負責微型熱物理實驗室，在實驗室裏他和他的學生進行關於微尺度熱傳導、能量轉換係統、半導體熱管理、生物傳熱等相關話題的研究。三維集成電路（IC）中(zhong)的(de)熱(re)耗(hao)散(san)是(shi)一(yi)大(da)技(ji)術(shu)挑(tiao)戰(zhan)，盡(jin)管(guan)在(zai)過(guo)去(qu)的(de)十(shi)幾(ji)年(nian)或(huo)二(er)十(shi)年(nian)中(zhong)進(jin)行(xing)了(le)大(da)量(liang)的(de)研(yan)究(jiu)，但(dan)這(zhe)一(yi)技(ji)術(shu)的(de)廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)仍(reng)然(ran)受(shou)到(dao)阻(zu)礙(ai)。因(yin)此(ci)，微(wei)型(xing)熱(re)物(wu)理(li)學(xue)實(shi)驗(yan)室(shi)的(de)研(yan)究(jiu)人(ren)員(yuan)開(kai)展(zhan)實(shi)驗(yan)以(yi)測(ce)量(liang)三(san)維(wei)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)的(de)關(guan)鍵(jian)熱(re)特(te)性(xing)，開(kai)發(fa)分(fen)析(xi)模(mo)型(xing)以(yi)了(le)解(jie)三(san)維(wei)集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)中(zhong)的(de)熱(re)傳(chuan)導(dao)。
測量溫度場
bomocailiaozidanshengyilaijiuyizhishiweidianzijishudeyigezhongyaotezheng，weixinpiantigongduozhonggongneng。weilezhunquedilejiebomoderexingneng，womenxuyaojiangrexingnengyuchenjiguochengzhongbuduanbianhuadeweiguanjiegouhexingmaolianxiqilai。zheyang，jiukeyiyanjiuzhurudaodianxing、體積模量、厚度和界麵熱阻等屬性。
Ankur Jain博士稱：“我們對微型器件上溫度場隨時間的變化尤其感興趣，通過測量基質的熱屬性，我們盡力了解微尺度熱傳導的基本性質。”在電子元件中，熱通常是主設備運行的不良副作用。因此，充分了解薄膜的瞬態熱現象十分重要。
Ankur Jain表示：“通過測量基質的熱屬性，我們盡力了解微尺度熱傳導的基本性質。”
“通(tong)過(guo)了(le)解(jie)熱(re)如(ru)何(he)在(zai)微(wei)係(xi)統(tong)中(zhong)流(liu)動(dong)，我(wo)們(men)能(neng)夠(gou)有(you)效(xiao)地(di)將(jiang)過(guo)熱(re)問(wen)題(ti)最(zui)小(xiao)化(hua)。這(zhe)有(you)助(zhu)於(yu)我(wo)們(men)設(she)計(ji)出(chu)更(geng)優(you)秀(xiu)的(de)微(wei)係(xi)統(tong)，並(bing)在(zai)材(cai)料(liao)選(xuan)擇(ze)方(fang)麵(mian)作(zuo)出(chu)更(geng)明(ming)智(zhi)的(de)決(jue)策(ce)。例(li)如(ru)，我(wo)們(men)已(yi)進(jin)行(xing)一(yi)項(xiang)研(yan)究(jiu)，旨(zhi)在(zai)比(bi)較(jiao)各(ge)種(zhong)類(lei)型(xing)薄(bo)膜(mo)的(de)熱(re)傳(chuan)導(dao)屬(shu)性(xing)。”
紅外熱像儀的應用
為了測量微電子設備的溫度，Ankur Jain博(bo)士(shi)的(de)團(tuan)隊(dui)使(shi)用(yong)過(guo)各(ge)種(zhong)技(ji)術(shu)，包(bao)括(kuo)熱(re)電(dian)偶(ou)。這(zhe)項(xiang)技(ji)術(shu)存(cun)在(zai)的(de)主(zhu)要(yao)問(wen)題(ti)是(shi)熱(re)電(dian)偶(ou)僅(jin)能(neng)測(ce)量(liang)單(dan)點(dian)溫(wen)度(du)值(zhi)。為(wei)了(le)獲(huo)得(de)溫(wen)度(du)場(chang)的(de)更(geng)全(quan)麵(mian)直(zhi)觀(guan)的(de)圖(tu)像(xiang)，Jain博士決定使用FLIR紅外熱像儀。FLIR A6703sc紅外熱像儀專為電子元件檢測、醫療熱成像、生產監控、feipohuaixingceshidengyingyongersheji，wanmeishiyongyugaosureshijianhekuaisuyidongmubiao。duanpuguangshijianshiyonghunenggoudinggeyundong，huodejingquedewenduceliangzhi。rexiangyidetuxiangshuchukeyitongguotiaojiechuangkou，jiangzhenpintigaozhi480幀/秒，並精確描述高速熱事件的特征，從而確保在測試過程中不會遺漏關鍵數據。
Ankur Jain表示：“我們感興趣的設備中的熱現象轉瞬即逝，我們需要整個溫度場的信息，而不是單點測量值，FLIR A6703sc在實驗期間大有助益，為我們呈現受測設備非常精細的細節。”
FLIR ResearchIR助力科研研發
此外，Ankur Jain博士的團隊一直將FLIR ResearchIR分析軟件用於科研研發應用領域。ResearchIR是一款強大且簡單易用的熱分析軟件，可實現熱像儀係統的命令和控製、高速數據記錄、實時或回放分析以及報告等。Ankur Jain道：“經證實，FLIR的ResearchIR軟件非常實用，尤其是，它能夠保存我們的熱記錄然後在數台電腦之間共享以供進一步分析”。
“ResearchIR極大地增進了我們團隊內以及我們團隊與其他團隊的協作，非常感謝菲力爾產品的支持！”
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