產品的品質保證作為生產過程中的重要環節越來越受到廠商的重視。根據machinist.in的一份最新報告，“Frost ＆ Sullivan公司預測，在未來五年
，測試與測量設備市場的年均複合增長率（CAGR）將達到30%。”這表明
，在市場需求的推動下，廠商對於測試與測量設備的投入將不斷增加。

　　由(you)於(yu)被(bei)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)的(de)複(fu)雜(za)性(xing)越(yue)來(lai)越(yue)高(gao)，基(ji)於(yu)開(kai)放(fang)式(shi)架(jia)構(gou)的(de)自(zi)動(dong)測(ce)試(shi)係(xi)統(tong)變(bian)得(de)越(yue)來(lai)越(yue)重(zhong)要(yao)
，該(gai)係(xi)統(tong)通(tong)過(guo)為(wei)工(gong)程(cheng)師(shi)提(ti)供(gong)更(geng)多(duo)的(de)靈(ling)活(huo)性(xing)與(yu)兼(jian)容(rong)性(xing)，滿(man)足(zu)不(bu)斷(duan)變(bian)化(hua)的(de)市(shi)場(chang)需(xu)求(qiu)

，縮(suo)短(duan)了(le)產(chan)品(pin)的(de)開(kai)發(fa)周(zhou)期(qi)。區(qu)別(bie)於(yu)傳(chuan)統(tong)的(de)計(ji)算(suan)平(ping)台(tai)
，測(ce)試(shi)平(ping)台(tai)需(xu)要(yao)針(zhen)對(dui)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)對(dui)象(xiang)不(bu)斷(duan)調(tiao)整(zheng)
，以(yi)滿(man)足(zu)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)的(de)需(xu)求(qiu)。

研華產品係列

　　以半導體自動測試設備（ATE）為例，不論在晶圓和封裝階段，利用多種儀器或數據采集卡測試內存
、數字量、混合信號及片上係統（SOC）組件的各種參數。在消費者、計算和通信市場需求的推動下

，這些測試係統在不斷發展。在半導體行業若想不斷創新突破，ATE測試設備必須提供比以往更多的功能和更快的速度。

　　此外，一旦出現軟件支持問題或接口兼容受限
，測試測量設備會很快被淘汰，當采集數據由一個模塊向另一個模塊轉移時

，成本、軟件支持受限和編程等問題便至關重要。

　　鑒於以上因素
，測試程序是否采用領先、可靠的係統和技術對於使用者至關重要。26年(nian)來(lai)，研(yan)華(hua)開(kai)發(fa)了(le)高(gao)品(pin)質(zhi)的(de)模(mo)擬(ni)量(liang)與(yu)數(shu)字(zi)量(liang)生(sheng)產(chan)測(ce)試(shi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。今(jin)天(tian)，研(yan)華(hua)結(jie)合(he)開(kai)放(fang)式(shi)架(jia)構(gou)
，采(cai)用(yong)可(ke)靠(kao)的(de)硬(ying)件(jian)設(she)計(ji)和(he)堅(jian)固(gu)的(de)平(ping)台(tai)，為(wei)廠(chang)商(shang)和(he)測(ce)試(shi)者(zhe)提(ti)供(gong)了(le)最(zui)先(xian)進(jin)的(de)工(gong)業(ye)自(zi)動(dong)化(hua)產(chan)品(pin)和(he)服(fu)務(wu)。