3.2　A/D轉換與單片機係統
　　由於測試量程要達100毫歐、分辨率要小於0.1毫歐，所以A/D轉換器的二進製編碼數至少要達到1000個
，相當於10位的A/D轉換器。考慮到噪聲的影響以及A/D轉換器的差分非線性DNL、積分非線性NL和量化誤差LSB，選擇16位的串行接口A/D轉換器ADS7809。設定其輸入量程為10V
，則分辨率為0.1525mV。當被測量的電阻最大值為100毫歐，恒流源電流為1A時，被測電阻上的壓降為0.1V。為提高測試的精度，將此信號放大100倍達到10V

，則理論上0.1毫歐的電阻可產生10mV的電壓降，A/D轉換後的讀數可達65LSB
，可充分保證測量的精度。

圖3 精密擴展恒流源電路

4　關鍵誤差的消除

4.1　硬件濾波電路
　　由(you)於(yu)機(ji)體(ti)是(shi)一(yi)個(ge)大(da)的(de)導(dao)體(ti)，其(qi)感(gan)應(ying)的(de)幹(gan)擾(rao)信(xin)號(hao)很(hen)強(qiang)
，機(ji)上(shang)設(she)備(bei)工(gong)作(zuo)時(shi)也(ye)會(hui)產(chan)生(sheng)較(jiao)大(da)的(de)幹(gan)擾(rao)。而(er)機(ji)體(ti)電(dian)阻(zu)是(shi)一(yi)個(ge)比(bi)較(jiao)穩(wen)定(ding)的(de)值(zhi)，在(zai)恒(heng)流(liu)源(yuan)的(de)激(ji)勵(li)下(xia)產(chan)生(sheng)的(de)電(dian)壓(ya)信(xin)號(hao)是(shi)比(bi)較(jiao)穩(wen)定(ding)的(de)信(xin)號(hao)，理(li)論(lun)上(shang)近(jin)似(si)如(ru)直(zhi)流(liu)。因(yin)此(ci)在(zai)將(jiang)測(ce)量(liang)信(xin)號(hao)加(jia)到(dao)A/D轉換器之前先經過一個有源低通濾波器，設定較低的截止頻率可濾除一切交流幹擾。

4.2　軟件濾波

　　為進一步提高係統抗幹擾和噪聲的能力，保證測試的精度
，對獲得的測量值進行數字濾波處理，即進行256次測量後取平均值。經過軟
、硬件濾波處理後的係統誤差僅僅±1LSB。

4.3　測試連接線及其與機上測試點隨機接觸電阻的消除

　　恒流源電流流經的係統內部線路電阻和連接飛機的測試導線的導線電阻可達三十幾毫歐，可作為係統常數誤差予以消除。
　　難以消除的誤差是隨機誤差
，來自於測試線路與機上連接點的隨機接觸電阻。每次測量時，擰緊測試線的力度不同
、接觸表麵的清潔度不同

，其接觸電阻完全是隨機的
，變化範圍可達幾個毫歐。為此采用如圖4所示的測試連接電路予以消除。

圖4 消除隨機誤差的測試連接圖

測試原理是四線測試法。選擇L1~L4四根導線為相同導線電阻的鍍銀導線。M1、M2為機上測試連接點。在同一個測試點上擰緊兩根測試線，L1和L2，L3和L4。導線的另一端接至測試接線盒的接觸電阻小於0.05毫歐的φ6鍍金接線柱。采用手動連接活動鍍金接線片的辦法，構成三種測試狀態：R+接T1、R―接N1，測量出L1、L2及接觸點M1的接觸電阻；R+接N2、R―接T2，測量出L3、L4及接觸點M2的接觸電阻。將這兩個電阻值取平均值作為測試線路的係統誤差。最後測出R+接N2、R―接N1的電阻值，減去上述測得的測試線路係統誤差
，即得到機體電阻值。