西克黑科技　

　　概述

　　當檢測物體抖動或翹曲的時候，會導致反射光線不能穩定反射到傳感器內部的接收單元上

， 從而造成誤檢測的風險。TwinEye-Technology複眼光電技術采用兩個接收單元， 並通過芯片比較兩個接收單元的反射光能量及形狀，能有效減少因反射光線不穩定導致的誤動作

，提升設備穩定性。 減少客戶停機時間
，以及提高工藝穩定性。

　　技術原理

　　傳(chuan)統(tong)光(guang)電(dian)傳(chuan)感(gan)器(qi)采(cai)用(yong)的(de)單(dan)個(ge)感(gan)光(guang)單(dan)元(yuan)，當(dang)物(wu)體(ti)表(biao)麵(mian)出(chu)現(xian)凹(ao)凸(tu)或(huo)者(zhe)彎(wan)折(zhe)對(dui)檢(jian)測(ce)結(jie)果(guo)影(ying)響(xiang)很(hen)大(da)。因(yin)此(ci)在(zai)傳(chuan)感(gan)器(qi)內(nei)部(bu)增(zeng)加(jia)一(yi)個(ge)感(gan)光(guang)元(yuan)件(jian)接(jie)收(shou)反(fan)射(she)光(guang)線(xian)。如(ru)下(xia)圖(tu)通(tong)過(guo)這(zhe)兩(liang)個(ge)接(jie)收(shou)單(dan)元(yuan)對(dui)比(bi)兩(liang)個(ge)通(tong)道(dao)的(de)信(xin)號(hao)，SICK ASIC芯片采用Optical Expert算法對信號進行糾錯及補償
，達到穩定檢測目的。

　　物體被兩個接收單元近端捕捉到
，傳感器輸出信號

　　物體斜麵反射回的光線僅被一個接收單元近端捕捉到

，傳感器依然穩定輸出

　　解決客戶痛點

　　SICK TwinEye-Technology® 複眼技術在應對光滑材料，複雜顏色和複雜形狀物體檢測上提供更好的性能
，減少停機時間和提高工藝穩定性。

　　技術優勢

　　SICK TwinEye Technology®複眼光電技術可穩定檢測凹凸不平
、覆膜、fuzayansewuti。tongshi，deyiyudutedeguanglushejijiruanjiansuanfa，dazaigaijishudeguangdianchuanganqiduigaofanguangwutiganyingnenglijiwendingxingdayoutisheng。dazaigaijishudechuanganqiguangfanyongyubaozhuangshebei、灌裝設備中的物料有無及物料到位檢測。

　　SICK W16及W26係列光電開關, 均搭載TwinEye-Technology 複眼技術。如您有任何需求，歡迎隨時聯係我們。

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