測試、測量和監測儀器提供商泰克公司日前宣布， PulseCore半導體已經成功地采用泰克全套測試儀器，測試和驗證其最新推出的USB 2.0集成電路(IC)。新推出的PulseCore IC在業內率先采用擴頻時鍾(SSC)降低電磁幹擾(EMI)，同時滿足了USB 2.0行業標準。

　　為測量是否滿足USB 2.0行業標準和信號完整性

，PulseCore結合使用裝有TDSUSB2軟件選項的DPO7254示波器、TDSUSBF測試夾具和P7360A 6 GHz差分有源探頭。為測量電纜上的及輻射的USB 2.0 EMI功率降低情況，PulseCore還使用了帶有DPX實時RF顯示技術的RSA6114A實時頻譜分析儀(RTSA)。DPX波形圖像處理技術可以提供頻譜的實時RF信息
，揭示以前看不到的RF信號和信號異常事件。

　　“泰克是USB設計和一致性測試的領導者。”PulseCore工程設計總監Dan Hariton說，“我們麵臨著一個特別困難的測試挑戰，需要驗證USB 2.0標準滿足情況及EMI降(jiang)低(di)情(qing)況(kuang)，因(yin)此(ci)我(wo)們(men)轉(zhuan)向(xiang)專(zhuan)家(jia)求(qiu)助(zhu)。泰(tai)克(ke)測(ce)試(shi)套(tao)件(jian)自(zi)動(dong)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)檢(jian)定(ding)和(he)報(bao)告(gao)采(cai)集(ji)工(gong)作(zuo)，同(tong)時(shi)消(xiao)除(chu)了(le)耗(hao)時(shi)的(de)手(shou)動(dong)設(she)置(zhi)工(gong)作(zuo)
，為(wei)我(wo)們(men)節(jie)約(yue)了(le)大(da)量(liang)的(de)時(shi)間(jian)。”

　　通過使用這一測試套件，PulseCore能夠驗證其SSC技術的效果，該技術的平均EMI衰減為4dB

，滿足了USB 2.0標準。RTSA在跳變中和跳變後實時分析SSC
，保證示波器檢驗

、調試和測試設計時，關鍵SSC參數一直滿足規範。

　　儀器和軟件的速度
、可重複性和靈活性提供了額外的優勢，幫助PulseCore找到新型IC的極限，最終為PulseCore客戶提供更多的設計選項。借助PuseCore詳細測試發現的信息
，使用新型IC的係統設計人員可以了解極限特點，優化設計，實現最大性能
，或最大限度地降低EMI。

　　“泰(tai)克(ke)設(she)備(bei)和(he)軟(ruan)件(jian)自(zi)動(dong)進(jin)行(xing)設(she)置(zhi)和(he)一(yi)致(zhi)性(xing)測(ce)試(shi)


，在(zai)設(she)計(ji)階(jie)段(duan)和(he)驗(yan)證(zheng)階(jie)段(duan)為(wei)我(wo)們(men)節(jie)約(yue)了(le)大(da)量(liang)的(de)時(shi)間(jian)。如(ru)果(guo)沒(mei)有(you)這(zhe)些(xie)設(she)備(bei)和(he)軟(ruan)件(jian)，我(wo)們(men)不(bu)可(ke)能(neng)把(ba)我(wo)們(men)的(de)芯(xin)片(pian)推(tui)向(xiang)極(ji)限(xian)。”Hariton接著說。