安捷倫科技（NYSE:A）近日宣布

，公司最近推出的檢測創新在四月份的兩項重要會展中贏得幾項工業獎。 
　　在Nepcon Shanghai 2008上，Agilent Medalist x6000自動X射線檢測解決方案贏得SMT China雜誌頒發給檢測（AXI門類）的第二屆SMT China遠見獎。今年早些時候，Medalist x6000也榮獲Test and Measurement World 雜誌2008 年最佳測試獎的榮譽獎 
　　作為Medalist VTEP v2.0 供電無矢量測試套件組成部分的Agilent網絡參數測量技術，也在Nepcon Shanghai 2008上贏得測試係統∕設備門類中的電子製造（EM）亞洲創新獎。 
　　Agilent 公司的覆蓋擴展技術是VTEP V2.0供電套件中最新增添的有限接入解決方案，在拉斯維加斯的APEX展會上被選定為 IPC創新技術中心獎的勝出者。 
　　行業主導出版物和組織把這些獎項授予市場上最富創新的技術、應用、產品和服務。 
　　Agilent 測量係統部營銷總監NK Chari表示：“duiyejierenkewomenzaijiancelingyudechuangxin，womenshenganrongxing，womenyaotongguobuduanchuangxintuichuzuiwanzhengdechengtaojiancejiejuefangan，yibangzhuzhizaoshangyingduijishuheshangwudetiaozhan。” 
　　其它信息  
　　Agilent Medalist x6000自動X射線檢測係統是世界上最快的3-D在線AXI解決方案。它能降低轉換成本和資金投入
，更把缺陷覆蓋率提高到95%以上。 
　　製造商在為克服各種有限接入問題而尋找通用的工具套件時，AgilentMedalist VTEP v2.0供電無矢量測試套件是領先的在線測試武庫。它包括另一項獲獎技術 — iVTEP — 可用於測試超小封裝的器件，以及網絡參數測量和覆蓋擴展。 
　　Agilent yetigongyeneilingxiandezidonghangaoheguangxuejiancejiejuefangan
，ruxiayidaiguangxuexitong，diduibiduyuanjiandingwei，gutaijianmomoxing，yijigaijindehangaofenxisuanfa。zaiAOI產業中，這些能力可幫助製造商提供最高的故障覆蓋率
，速度和靈活性。