美國國家儀器有限公司（National Instruments
，簡稱NI）宣布主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” （Design Validation Test Forum
，即DVTF 2005）。延承2004年第一屆DVTF的成功之勢，本屆論壇將於2005年4月15日在上海國際會議中心舉行
，NI誠邀行業內外相關領域的多家優秀企業，如英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）等共同參與，為廣大測試測量行業的工程技術人員提供一個絕佳的學習與交流平台。
 
    主辦商負責人，NI中國分公司技術市場經理朱君女士表示：“虛(xu)擬(ni)儀(yi)器(qi)技(ji)術(shu)一(yi)直(zhi)與(yu)最(zui)尖(jian)端(duan)的(de)商(shang)業(ye)科(ke)技(ji)密(mi)不(bu)可(ke)分(fen)
，為(wei)工(gong)程(cheng)師(shi)們(men)和(he)科(ke)學(xue)家(jia)們(men)提(ti)供(gong)更(geng)強(qiang)大(da)的(de)工(gong)具(ju)，完(wan)成(cheng)測(ce)試(shi)測(ce)量(liang)和(he)自(zi)動(dong)化(hua)工(gong)作(zuo)。在(zai)此(ci)次(ci)活(huo)動(dong)中(zhong)，NI攜手其他行業先鋒共同展示最新技術
，希望能夠提供一個學習的平台來幫助用戶解決實際應用中的挑戰。”
 
    此次論壇將分為熱點技術專題與實時應用專題同時進行。10yuchangneirongfengfudezhuantiyantaohui

，xianchangdechanpinzhanshi，yugecanzhanshanghexingyeneirenshidemianduimianjiaoliu


，bijiangshininbuxucixing，jueduishiburongcuoguodexingyeshenghui！
 
    熱點技術專題為設計、測試以及自動化行業的軟/硬件工程師、以及希望學習測試測量行業發展趨勢和最新技術的專業人士而度身定製
，專題包括：最新總線標準—PCI Express, 了解如何運用這一技術來減少測試工作的時間，並解決新的應用問題
；運用Microsoft.NET技術來開發測試及測量應用；運用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技術
，使您自定義測量硬件電路，等。實時應用專題針對希望搭建一個具有魯棒性

、可靠性和確定性的測量、控製及自動化係統的專業人士，在這一主題的論壇中，您將了解到NI及其它行業專家為測量及控製係統所提供的實時平台。
 
    多年來，NI依托其旗艦產品LabVIEW圖形化開發環境和全係列的模塊化硬件，為世界各地的用戶提高生產效率並降低成本。此次NI中國聯合其他行業先鋒舉辦技術論壇
，也是為了更好地服務於本地用戶
，提供最大限度的支持。請登www.edw.com.cn/dvtf.htm，或致電010-68578429報名參與。